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msRepeatFinder

ポリマー解析ソフトウェア

#ソフトウェア #MS #ポリマー解析 #KMD #KMR #MALDI-TOFMS

ポリマー解析ソフトウェアの決定版!!
複雑なマススペクトルを可視化し、情報共有を加速します!

msRepeatFinderについて

末端基の異なるポリマーの組成分布解析

Kendrick Mass Defect (KMD)プロットとKendrick Mass Remainder (KMR)プロットを組み合わせることで、末端基の異なるホモポリマーの組成分布を可視化することができます。
各ポリマーシリーズをグループ化することで、色分けするとともに、分子量分布に関連する数値も計算可能です。

 

末端基の異なるポリエチレンオキシドの混合物マススペクトル

 

全イオン強度 KMD値の重心 NKM値の重心 数平均分子量 重量平均分子量 多分散度
826378 0.0245 1092.1 1092.8 1109.3 1.015
239802 -0.0635 1433.7 1434.5 1453.0 1.013
175311 -0.0920 1347.5 1348.3 1366.1 1.013
90119 -0.1060 1371.1 1371.9 1387.5 1.011
17689 0.0912 1279.8 1280.5 1291.2 1.008

 

 

ポリマーの元素組成推定 (v4新機能)

重合度が1異なる2つのピークを指定することで、モノマーと末端基の元素組成が推定可能です。

 

 

2検体間の差異分析 (v4新機能)

ポリマー分析において劣化解析、ロット間比較など2検体間の比較を行いたい場面が多くあります。
しかしKMDプロットの単純な重ね合わせ (下図右) ではその差異を直感的に判別することは困難でした。

 

msRepeatFinderに新たに搭載された差異分析機能を用いて、 2検体各3個ずつのマススペクトルから解析を行いました。
イオン強度の合計で規格化し、差分表示を行いました (下図左)。劣化前の方が優勢なイオンを赤、劣化後の方が優勢なイオンを緑の円で表示しています。
また、ボルケーノプロット (下図右) を作成し、ボルケーノプロット上で統計的有意差があるイオンのみを選択してKMDプロット上に表示することも可能です。

このように差異分析機能により劣化前後で有意な差があるポリマーシリーズを選択的に可視化することが可能となりました。

 

 

ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)と高精度MALDI-TOFMSを組み合わせた解析

多分散度の大きいポリマーの分析には、GPCによる分画と高精度MALDI-TOFMSを組み合わせた分析が有効です。
各フラクションのマススペクトルをRemainder of Kendrick Mass (RKM)プロット上に同時に表示することで、組成分布を可視化することができます。 詳細は、 開発元製品ページ をご覧ください。

 

 

末端基の異なるポリマーのMS/MSによる構造解析

高エネルギー衝突誘起解離は、MALDI-TOF-TOF特有の開裂方式で多くの構造情報がえられます。
RKMプロットを使用することで、その豊富な構造情報を可視化することができます。

末端基の異なるポリエチレンオキシドのプロダクトイオンスペクトル

 

3つのプロダクトイオンスペクトルのRKMプロットの重ね書き

 

 

共重合ポリマーの分析

高エネルギー衝突誘起解離は、MALDI-TOF-TOF特有の開裂方式で多くの構造情報がえられます。RKMプロットを使用することで、その豊富な構造情報を可視化することができます。

EO-POブロック共重合体のマススペクトル

KMDプロット(左)/Fraction baseKMDプロット(右)

 

 

電界脱離イオン化(FD)でのポリマー分析

FDは、エミッターへの電流量を増加させることで、脱離イオン化するポリマー種が時間により変化します。KMDプロットでは、時間変化により分離したポリマーを重ねがきで可視化することもできます。

ポリプロピレンオキシド、ポリスチレンの混合物の測定結果

 

 

機能

・ピークリストの入力(最大10まで重ね合わせ可能)
・KMD/KMRプロット作成
・Fraction base KMDプロット作成
・Remainder of KM(RKM) プロット作成
・ホモポリマーの末端基予測円の作成(KMRプロット上)のみ
・グループ化
– グループ化による色づけ
– グループ化したシリーズの表示/非表示切り替え
– グループの平均分子量・多分散度計算
– グループ化したポリマーシリーズのエクスポート

 

 

特記事項

・入力形式は、m/z,イオン強度の2列のピークリストです。
・処理結果の有用性は、与えたピークリストの測定質量精度に強く依存します。

 

 

お問い合わせ

詳細のお問い合わせは弊社までご連絡ください。
・Email: info-science@infocom.co.jp
・TEL: 03-6866-3860
(担当:水口、吉川)

 

本製品の開発元は、日本電子株式会社様です。 開発元製品ページ
弊社ページに掲載されているデータは日本電子株式会社様から提供いただいたものです。

 

本製品は、Microsoft Windows 7 Service Pack1 (64bit), Microsoft Windows 10 (64bit) がインストールされたPC上で動作します。
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